【電抗器常識(shí)】串聯(lián)電抗器與并聯(lián)電抗器的運(yùn)行條件比較

      通常對(duì)串聯(lián)電抗器的可靠性方面的擔(dān)心，在很大程度上來(lái)源于并聯(lián)電抗器的高故障率。所以說(shuō)串聯(lián)電抗器與并聯(lián)電抗器的運(yùn)行條件的差別很大，下面做具體介紹。

      一、正常運(yùn)行時(shí)繞組承受的電壓不同。
      并聯(lián)電抗器的繞組要承受系統(tǒng)電壓。而串聯(lián)電抗器的繞組僅承受系統(tǒng)電流在其上的電壓降落,通常只有系統(tǒng)電壓的2% ～5%,大部分系統(tǒng)電壓由支撐絕緣子承受。
 
      串聯(lián)電抗器一般與電容器串聯(lián)應(yīng)用于低壓無(wú)功補(bǔ)償中，限制電容器合閘涌流，抑制電網(wǎng)電壓波形畸變和控制流過(guò)電容器的諧波分量；降低和避免諧波電流的危害，保護(hù)電容器，提高功率因數(shù)。

      二、繞組中允許流過(guò)的電流裕度不同。
      串聯(lián)電抗器能耐受的短時(shí)沖擊電流是其額定電流的數(shù)十倍,而額定電流又是其實(shí)際流過(guò)的電流的數(shù)倍,因此縱絕緣的耐熱裕度相當(dāng)大。并聯(lián)電抗器流過(guò)的電流雖較小,但從設(shè)計(jì)角度考慮的絕緣和耐熱裕度通常沒(méi)有串聯(lián)電抗器大。因此,從對(duì)絕緣老化的影響來(lái)看,串聯(lián)電抗器的運(yùn)行條件較好,因此其可靠性也相對(duì)較高。
 
      對(duì)超高壓遠(yuǎn)距離輸電線(xiàn)路而言，空載或輕載時(shí)線(xiàn)路電容的充電功率是很大的，通常充電功率隨電壓的平方面急劇增加，巨大的充電功率除引起上述工頻電壓升高現(xiàn)象之外，還將增大線(xiàn)路的功率和電能損耗以及引起自勵(lì)磁，同期困難等問(wèn)題。裝設(shè)并聯(lián)電抗器可以補(bǔ)償這部分充電功率。

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